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ICS 77.040.99 H 21 中华人民共和国国家标准 GB/T 19346.1—2017 代替GB/T19346—2003 非晶纳米晶合金测试方法 第1部分:环形试样交流磁性能 Amorphous and nanocrystalline alloys measurement methods- Part 1:AC magnetic properties by the use of ring specimens 2017-02-28发布 2017-11-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T19346.1—2017 前言 本部分为GB/T19346的第1部分。 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本部分代替GB/T19346一2003《非晶纳米晶软磁合金交流磁性能测试方法》。 本部分与GB/T19346—2003相比,主要内容变化如下: 增加了术语和定义(见第3章); 一删除了伏安法交流磁性测量原理(见2003年版的第3章); 增加了通则,并修改了试样要求(见第4章,2003年版的第4章); 增加了对数字峰值电流表、电压数模转换器和功率表的技术要求(见5.4、5.5、5.6,2003年版的 第6章); 一增加了伏安法测量磁导率和磁化曲线的方法(见第6章); 删除了伏安相量法(见2003年版的5.1); 增加了用功率表测量比总损耗的方法(见第7章): 增加了对测量结果再现性和不确定度评估的要求(见第9章); 本部分由中国钢铁工业协会提出。 本部分由全国钢标准化技术委员会(SAC/TC183)归口。 本部分起草单位:中国钢研科技集团有限公司、冶金工业信息标准研究院、中国计量科学研究院。 本部分主要起草人:卢志超、陈文智、栾燕、李德仁、刘国栋、张志高、贺建 本部分所代替标准的历次版本发布情况为: GB/T19346—2003。 GB/T19346.1—2017 非晶纳米晶合金测试方法 第1部分:环形试样交流磁性能 1范围 本部分适用于测量各种变压器和电感类元器件以及磁屏蔽用的非晶纳米晶软磁合金在50Hz~ 200kHz频率范围内的相对幅值磁导率、比总损耗、比视在功率等交流磁性能。如果有合适的经过校准 的仪器,频率上限可延伸到1MHz,但此时再现性应适当放宽要求。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T2900.1电工术语基本术语 GB/T9637E 电工术语磁性材料与元件 3术语和定义 GB/T2900.1及GB/T9637界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 比总损耗 specifictotalloss 单位质量的均匀磁化材料所吸收的总功率,单位为瓦特每千克(W/kg)。 3.2 比视在功率 specificapparentpower 比表观功率 传递给单位质量的均匀磁化材料的总视在功率,单位为伏安每千克(VA/kg)。 4通则 4.1试样 4.1.1非晶纳米晶软磁合金交流磁性能的测量使用由带材卷绕而成的环形试样。如无专门要求,绕制 试样时带材表面不采取绝缘措施。 4.1.2推荐的试样内径为35mm士2mm,试样的外径与内径之比应小于1.25。如果需要采用其他尺 寸的试样,应在测量报告中说明。 4.1.3试样应平整,无毛刺、变形等缺陷 4.1.4试样在测量前应经过适当的热处理。试样在热处理过程中,应使用非铁磁性金属或陶瓷衬环支 撑试样内窗口,以防正试样发生变形。衬环的直径应略小于试样内径,高度与试样相当。试样热处理应 在保护气氛中进行,以防止表面氧化。 1 GB/T19346.1—2017 4.1.5试样的外径和内径用最小分度值不大于0.02mm的量具测量,试样的质量用检定分度值不天于 试样质量0.1%的天平称量。 4.1.6试样的平均磁路长度按式(1)计算: (D+d) m=元 (1) 2 式中: lm—试样的平均磁路长度,单位为米(m); D—试样外径,单位为米(m); d 试样内径,单位为米(m)。 4.1.7试样的有效截面积按式(2)计算: 2m A= ...(2) pm(D+d) 式中: A 试样的横截面积,单位为平方米(m); m——试样的质量,单位为千克(kg); Pm—材料的密度,单位为千克每立方米(kg/m); D 一试样外径,单位为米(m); d ——试样内径,单位为米(m)。 4.1.8试样在测量前应装人由非铁磁性绝缘材料制成的保护盒中。保护盒的内腔尺寸应在保证所放 入试样不受外力的前提下尽量小。 4.1.9试样在测量前应进行交流退磁。 4.2绕组 4.2.1绕组数量和匝数取决于所使用的测量设备和方法。测量前,在装有试样的保护盒上分别绕制一 个初级绕组和一个次级绕组。绕组应均匀地绕制在保护盒上。次级绕组应紧密地绕制在保护盒的整个 周长上。应保证绕组所用导线的绝缘层不被保护盒边角损坏,初级绕组和次级绕组之间应保证良好的 电气绝缘 4.2.2在高于工频的频率下测量时,应使用具有较低介电损耗绝缘层的导线。在保证测量条件的前提 下尽可能减少绕组匝数和引线长度,以减小绕组的分布参数造成的影响。 4.3 测量环境 如无特殊要求,测量应在温度23℃士5℃、相对湿度小于90%的室内环境下进行。 5测量用主要仪器 5.1交流磁化电源: a)频率范围:50Hz~200kHz; b)频率稳定性:士0.01%/3min; 输出电压稳定性:土0.1%/3min; d) 输出功率:大于50VA; e) 输出电压:0V~50V。 5.2 2数字平均值电压表: a)频率范围:50Hz~200kHz; 2
GB-T 19346.1-2017 非晶纳米晶合金测试方法 第1部分:环形试样交流磁性能
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