(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210831876.5 (22)申请日 2022.07.15 (71)申请人 中国电子产品可靠性与环境试验研 究所 （ （工业和信息化部电子第五研 究所） （中国赛宝实验室） ） 地址 511300 广东省广州市增城区朱 村街 朱村大道西78号 (72)发明人 张杰毅　杨洪旗　胡宁　潘勇　 聂国健　张玲杰　杨延超　赖喆　 (74)专利代理 机构 华进联合专利商标代理有限 公司 44224 专利代理师 赖舒娴 (51)Int.Cl. G06F 30/20(2020.01) G06F 17/16(2006.01)G06F 119/02(2020.01) (54)发明名称 电子产品分析方法、 装置、 计算机设备及存 储介质 (57)摘要 本申请涉及一种电子产品分析方法、 装置、 计算机设备及存储介质， 通过对电子产品进行仿 真分析， 以得到电子产品的故障信息和各层级， 然后根据故障信息和各层级构建故障传递模型， 再基于故障传递模型， 对电子产品进行故障影 响 分析和故障树分析， 以得到电子产品可靠性分析 结果， 以及基于故障传递模型， 构建相关性矩阵， 并根据相关性矩 阵得到电子产品的测试性分析 结果。 通过 故障信息和各层 级构建出的故障传递 模型， 能够实现电子产品的可靠性与相关性的协 同建模和分析， 提高电子产品可靠性和测试性的 设计分析效率与结果 准确性。 权利要求书3页 说明书13页 附图6页 CN 115238488 A 2022.10.25 CN 115238488 A 1.一种电子产品分析 方法， 其特 征在于， 包括： 对所述电子产品进行仿真 分析， 以得到所述电子产品的故障信息和各层级； 根据所述故障信息和各 所述层级构建故障传递模型； 基于所述故障传递模型， 对所述电子产品进行故障影响分析和故障树分析， 以得到所 述电子产品可靠性分析 结果； 基于所述故障传递模型， 构建相关性矩阵， 并根据所述相关性矩阵得到所述电子产品 的测试性分析 结果。 2.根据权利要求1所述的电子产品分析方法， 其特征在于， 所述对所述电子产品进行仿 真分析， 以得到所述电子产品的故障信息和各层级， 包括： 根据所述电子产品的任务剖面确定所述电子产品的载荷剖面； 确定所述电子产品的各层级和各所述层级中各节点的功能， 并构建所述电子产品的数 字样机模型； 基于所述数字样机模型建立所述电子产品的应力 仿真模型， 并将所述载荷剖面施加在 所述应力仿真模型上， 求解得到所述载荷剖面下所述电子产品的应力剖面和关键失效部 位； 根据所述关键失效部位和实际故障数据， 确定所述电子产品的各节点的潜在故障机理 分析结果， 其中， 所述潜在故障机理分析结果包括潜在故障模式、 潜在故障机理和故障物理 模型； 根据所述潜在故障机理分析结果和所述电子产品的功能结构， 确定不同潜在故障机理 对应的故障检测方法， 并分析故障传递路径； 基于所述电子产品的各节点的不同潜在故障机理对应的故障物 理模型， 确定各节点在 应力剖面下的潜在故障机理的故障前时间； 根据所述电子产品的各节点的故障物理模型的模型参数， 确定故障物理模型参数矩 阵， 并根据所述 故障物理模 型参数矩阵、 故障物理模型、 所述应力剖面中的应力序列和不同 应力量值的作用时间， 确定各节点的大样本故障前时间； 根据各节点的大样本故障前时间， 确定各节点的故障概 率； 其中， 所述故障信息包括所述潜在故障模式、 潜在故障机理、 故障物理模型、 故障检测 方法、 故障传递路径和故障概 率。 3.根据权利要求2所述的电子产品分析方法， 其特征在于， 所述根据所述故障信 息和各 所述层级构建故障传递模型， 包括： 按照各所述层级构建所述电子产品的层次图， 建立各所述节点的功能与对应节点的关 联关系； 建立各所述节点与对应节点的潜在故障模式、 潜在故障机理、 故障物 理模型、 故障检测 方法、 故障传递路径和故障概 率之间的关联关系； 根据各所述节点的潜在故障模式、 潜在故障机理、 故障物理模型、 故障检测方法、 故障 传递路径、 故障概率以及真实故障信息， 确定各所述节点之间的故障传递关系， 以完成所述 故障传递模型的构建。 4.根据权利要求2或3所述的 电子产品分析方法， 其特征在于， 所述基于所述故障传递 模型， 对所述电子产品进行故障影响分析和故障树分析， 以得到所述电子产品可靠性分析权　利　要　求　书 1/3 页 2 CN 115238488 A 2结果， 包括： 根据所述故障传递模型中各节点的故障信 息和功能， 对所述电子产品进行故障影响分 析， 以得到表格化的故障影响分析 结果； 根据所述故障影响分析 结果， 分析 各所述节点的关键故障的故障原因和故障影响； 根据所述故障影响分析结果中各所述节点的故障发生概率和严酷度确定顶事件， 根据 所述故障传递模型 的图形化故障和传递关系， 结合所述故障传递模型 的逻辑关系， 按逆序 建模方式生成故障树； 对所述故障树进行定量和定性分析， 得到所述可靠性分析结果， 其中， 所述可靠性分析 结果包括所述顶事件的最小割集、 所述顶事件发生概率、 概率重要度、 结构 重要度和关键重 要度。 5.根据权利要求4所述的电子产品分析方法， 其特征在于， 所述基于所述故障传递模 型， 构建相关性矩阵， 包括： 查找各所述层级中最低层级中各节点的故障模式， 将所述最低层级中节点的故障模式 组成故障模式集 合； 查找所述故障传递模型中的所有测试点， 将所有测试点的测试组成测试集； 从所述测试集中按照顺序选中第i个测试作为目标测试， i为大于等于1且小于等于所 述测试集中的测试的总个数的整数； 从所述所有测试点中查询所述目标测试所属的目标测试点， 通过所述目标测试点与输 出端口之间的连线找到所述输出端口； 查询所述输出端口包含的所有的故障模式， 并以各所述故障模式为顶事件绘制故障 树， 并将各 所述故障树构成故障树 集合； 从所述故障模式集合中按顺序选择第j个故障模式作为目标故障模式， 将所述目标故 障模式输入到所述 故障树集合中的所有故障树中， 以得到所述相关性矩阵中位于第 j行第i 列元素的值， 其中， 所述j为大于等于1且小于等于所述所有的故障模式的总个数的整数。 6.根据权利要求5所述的电子产品分析方法， 其特征在于， 所述从所述故障模式集合中 按顺序选择第j个故障模式作为 目标故障模式， 将所述 目标故障模式输入到所述故障树集 合中的所有故障树中， 以得到所述相关性矩阵中位于第j行第i列元 素的值， 包括： 在调用故障影响分析算法确定所述目标故障模式为真、 且所述顶事件发生的情况下， 则确定所述相关性矩阵中位于第j行第i列元素 的值等于第一预设值， 其中， 所述第一预设 值用于表征 所述目标故障模式与所述目标测试之间具 备相关性。 7.根据权利要求6所述的电子产品分析 方法， 其特 征在于， 所述方法还 包括： 在调用故障影响分析算法确定所述目标故障模式为真、 且所述顶事件未发生的情况 下， 则确定所述相关性矩阵中位于第 j行第i列元素的值等于第二预设值， 其中， 所述第二预 设值用于表征 所述目标故障模式与所述目标测试之间不具 备相关性。 8.一种电子产品分析装置， 其特 征在于， 所述装置包括： 仿真模块， 用于对所述电子产品进行仿真分析， 以得到所述电子产品的故障信息和各 层级； 模型构建模块， 用于根据所述故障信息和各 所述层级构建故障传递模型； 第一获取模块， 用于基于所述故障传递模型， 对所述电子产品进行故障影响分析和故权　利　要　求　书 2/3 页 3 CN 115238488 A 3