UDC 621.3.049.774 中华人民共和国国家标准 GB 664886 半导体集成电路静态读/写 存储器空白详细规范 Blank detail specification for semiconductor integrated circuit static read/write memories (可供认证用） 1986-07-31发布 1987-08-01试行 国家标准局 批准 中华人民共和国国家标准 UDC 621.3 半导体集成电路静态读/写 .049.774 存储器空白详细规范 GB6648—86 Blank detail specification for semiconductor integrated circuit static read/write memories （可供认证用） 本规范规定了编制半导体集成电路静态读/写存储器（以下简称器件）详细规范的基本原则。 本规范是与GB4589.1一84《半导体集成电路总规范》有关的一系列空白详细规范之-。 要求的资料 下列（1）～（9）项要求的内容与首页表中各栏资料相对应，编制详细规范时应填写在相应的 栏中。 详细规范的识别 （1）发布详细规范的国家标准化机构名称。 （2）IECQ详细规范的编号和（或）日期。 （3） 总规范号和年代号。 （4）详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系需要的资料。 器件的识别 （5）器件类型。 （6）典型结构和应用资料。 如果设计的器件是多用途的，应在详细规范中说明，这些用途对器件所要求的特性和检验都应得 到满足。 如果器件属静电敏感型，应在详细规范中声明。 （7）外形图和/或与外形有关的参考文件。 （）·质量评定类别。 （9）能在各类器件之间进行比较的、最重要的性能参考数据。 【本规范中，中括号所列内容仅供指导编制详细规范用，不必在详细规范中列出。 本规范中： x：表示应在详细规范中填人的数值。 （x）：表示需要时应给出的数值。 【x】：表示可选择给出的特性或试验（至少执行其中之一）。］ 国家标准局1986-07-31发布 1987-08-01试行 1