ICS 31.080.01 GB L 40 中华人民共和国国家标准 GB/T4937.12—2018/IEC60749-12:2002 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动 Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods- Part 12:Vibration,variable frequency (IEC 60749-12:2002,IDT) 2018-09-17发布 2019-01-01实施国家市场监督管理总局发布中国国家标准化管理委员会

GB-T 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动

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